قوة:: إلكتروني
درجة حرارة غرفة الاختبار:: NSS.ACSS 35 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية / كاس 50 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية
قوة:: إلكتروني
درجة حرارة غرفة الاختبار:: NSS.ACSS 35 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية / كاس 50 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية
قوة:: إلكتروني
درجة حرارة غرفة الاختبار:: NSS.ACSS 35 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية / كاس 50 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية
قوة:: إلكتروني
درجة حرارة غرفة الاختبار:: NSS.ACSS 35 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية / كاس 50 درجة مئوية ± 1 درجة مئوية
قوة:: إلكتروني
الطول الموجي للأشعة فوق البنفسجية: 290 ~ 400 نانومتر
قوة:: إلكتروني
الطول الموجي للأشعة فوق البنفسجية: 290 ~ 400 نانومتر
قوة:: إلكتروني
الطول الموجي للأشعة فوق البنفسجية: 290 ~ 400 نانومتر
نموذج: B-XD-800
داخلي: 100 × 100 × 80
نموذج: B-XD-408
داخلي: 60 × 85 × 80
نموذج: B-XD-225
داخلي: 50 × 75 × 60
نموذج: B-XD-120
داخلي: 45 × 60 × 45
خافت داخلي: 30 × 45
خافت خارجي: 54 × 67 × 45
خافت داخلي: 30 × 45
خافت خارجي: 54 × 67 × 45
نموذج: B-TH-48L
مصدر الطاقة: AV 220 فولت / 380 فولت 50/60 هرتز
اسم: غرفة اختبار درجة الحرارة العالية والمنخفضة الصغيرة
نموذج: B-T-107 (A-D)
اسم: غرفة اختبار درجة الحرارة السريعة
نموذج: BT-1000 (AE)
أرسل استفسارك مباشرة إلينا
english
français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
हिन्दी
Türkçe
indonesia
tiếng Việt
ไทย
বাংলা
فارسی
polski